簡(jiǎn)要描述:高溫塊體壓電參數(shù)分析儀本系統(tǒng)主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的電和機(jī)電的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度范圍。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | 北京華測(cè) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,綜合 |
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高溫塊體壓電分析儀本系統(tǒng)主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的電和機(jī)電的表征。
壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度范圍。
大信號(hào)和小信號(hào)材料的特征可以在一定溫度范圍內(nèi)表征。樣品上的電流響應(yīng)測(cè)量是通過(guò)準(zhǔn)確的虛擬接地方法衡量電壓激勵(lì)信號(hào)。樣品的微位移同時(shí)通過(guò)激光干涉儀進(jìn)行測(cè)量。
高溫塊體壓電分析儀應(yīng)用:
材料的研究與開(kāi)發(fā)
器件質(zhì)量
大信號(hào)和小信號(hào)測(cè)試
溫度依賴性測(cè)試
可靠性和疲勞試驗(yàn)
漏電流測(cè)試
優(yōu)點(diǎn):
一個(gè)系統(tǒng)就可以進(jìn)行塊體陶瓷材料的壓電和鐵電進(jìn)行綜合評(píng)價(jià),如傳感器和執(zhí)行器
單一軟件進(jìn)行外部硬件控制(如溫度控制器、高壓放大器、位移傳感器、示波器)和數(shù)據(jù)采集
遠(yuǎn)程接入和腳本控制
選件可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)庫(kù)連接(ODBC)方便對(duì)材料/設(shè)備進(jìn)行表征
針對(duì)用戶應(yīng)用和要求的硬件
升級(jí)服務(wù),用戶支持
特點(diǎn):
支持的硬件:
內(nèi)置或外置的高壓放大器(+/-100V到+/-10 kV)
塊體陶瓷樣品夾具
溫度控制器和溫度腔
位移傳感器(如激光干涉儀、電容或電感)
外置鎖相放大器或阻抗橋
測(cè)試功能:
大信號(hào)電極化和位移(單一極化和雙化)
小信號(hào)電容、損耗、壓電系數(shù)與單一和雙極直流偏壓
電和機(jī)電隨溫度的變化研究
熱釋電測(cè)試
漏電流測(cè)試
疲勞測(cè)試
阻抗測(cè)試
用戶定義激勵(lì)波形
軟件:
Windows 7操作系統(tǒng)
通過(guò)GPIB或以太網(wǎng)的遠(yuǎn)程接入和腳本控制
通過(guò)ODBC接口的數(shù)據(jù)庫(kù)連接
測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)ASCII形式輸出
測(cè)試數(shù)據(jù)交換通過(guò)aixPlorer軟件或Resonance Analyzer。
高溫塊體壓電參數(shù)分析儀
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