陶瓷功能材料靜態(tài)壓電常數(shù)測(cè)試儀

陶瓷功能材料靜態(tài)壓電常數(shù)測(cè)試儀壓電材料：

受到壓力作用時(shí)會(huì)在兩端面間出現(xiàn)電壓的晶體材料。1880年，法國(guó)物理學(xué)家P. 居里和J.居里兄弟發(fā)現(xiàn)，把重物放在石英晶體上，晶體某些表面會(huì)產(chǎn)生電荷，電荷量與壓力成比例。這一現(xiàn)象被稱(chēng)為壓電效應(yīng)。隨即，居里兄弟又發(fā)現(xiàn)了逆壓電效應(yīng)，即在外電場(chǎng)作用下壓電體會(huì)產(chǎn)生形變。壓電效應(yīng)的機(jī)理是：具有壓電性的晶體對(duì)稱(chēng)性較低，當(dāng)受到外力作用發(fā)生形變時(shí)，晶胞中正負(fù)離子的相對(duì)位移使正負(fù)電荷中心不再重合，導(dǎo)致晶體發(fā)生宏觀極化，而晶體表面電荷面密度等于極化強(qiáng)度在表面法向上的投影，所以壓電材料受壓力作用形變時(shí)兩端面會(huì)出現(xiàn)異號(hào)電荷。反之，壓電材料在電場(chǎng)中發(fā)生極化時(shí)，會(huì)因電荷中心的位移導(dǎo)致材料變形。

壓電材料應(yīng)用：

利用壓電材料的這些特性可實(shí)現(xiàn)機(jī)械振動(dòng)（聲波）和交流電的互相轉(zhuǎn)換。因而壓電材料廣泛用于傳感器元件中，例如地震傳感器，力、速度和加速度的測(cè)量元件以及電聲傳感器等。這類(lèi)材料被廣泛運(yùn)用，舉一個(gè)很生活化的例子，打火機(jī)的火花即運(yùn)用此技術(shù)。

儀器簡(jiǎn)介：

可以分析被測(cè)樣品D33常數(shù)隨溫度、頻率、時(shí)間變化的曲線(xiàn)。通過(guò)軟件將這些變化曲線(xiàn)的溫度譜、時(shí)間譜等集成一體并進(jìn)行分析測(cè)量并可以直接得出樣品的壓電溫譜圖。對(duì)試樣大小及形狀無(wú)特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長(zhǎng)條、柱形及半球殼等均可測(cè)量，可廣泛用于鐵電、壓電材料（壓電陶瓷、高分子）以及相關(guān)器件的評(píng)價(jià)與測(cè)試。

   HCYD-800壓電材料靜態(tài)壓電常數(shù)測(cè)試儀可測(cè)量壓電材料的介電常數(shù)、居里溫度、熱釋電系數(shù)、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33、機(jī)電耦合系數(shù)等參數(shù)，它是一款功能壓電材料測(cè)試裝置。

壓電材料靜態(tài)壓電常數(shù)測(cè)試儀測(cè)試原理：

1、5—加壓裝置絕緣座        2、4—加壓裝置引出電極

3—試樣               C—并聯(lián)電容器    

K—短路開(kāi)關(guān)             6—靜電計(jì)          

參考標(biāo)準(zhǔn)：
GB3389.4-82《壓電陶瓷材料測(cè)試方法 縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33的靜態(tài)測(cè)試》

GB/T3389.5-1995《壓電陶瓷材料測(cè)試方法 圓片厚度伸縮振動(dòng)模式》

GB3389.4-1982《壓電陶瓷材料測(cè)試方法 柱體縱向長(zhǎng)度伸縮振動(dòng)模式》

GB/T 3389.7-1986《壓電陶瓷材料測(cè)試方法 強(qiáng)場(chǎng)介電的測(cè)試》

GB/T3389.8-1986《壓電陶瓷材料測(cè)試方法 熱釋電系數(shù)的測(cè)試》

參數(shù)規(guī)格：

儀器優(yōu)點(diǎn)：

■ 采用RAM嵌入式開(kāi)發(fā)平臺(tái)

■可以進(jìn)行在線(xiàn)升級(jí)、遠(yuǎn)程協(xié)助及故障診斷；

■ 集成10.1"電容觸摸寬屏顯示，軟件操作流暢，體驗(yàn)感好；

■ 高溫爐、測(cè)量夾具、顯示及軟件集成于一體

■ 測(cè)量精度會(huì)高，儀器穩(wěn)定且易維護(hù)；

■ 實(shí)現(xiàn)常溫、高溫、真空、流動(dòng)氣氛等多環(huán)境下測(cè)試

壓電模塊測(cè)試功能：

電容-電壓曲線(xiàn)、損耗曲線(xiàn)；

壓電測(cè)試（蝴蝶曲線(xiàn)、d33曲線(xiàn)）；

熱釋電測(cè)試；

e31、h31測(cè)試；

靜態(tài)加載力條件下的測(cè)試；

測(cè)試范圍（D33）：2至4000pC/N；

測(cè)試頻率：20HZ-10M；

測(cè)試精度：0.05%；

測(cè)量參數(shù)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Lac；

施力裝置：約4kg。