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  • HCLD-III操作簡(jiǎn)單高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器
    HCLD-III操作簡(jiǎn)單高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):HCLD-III

    瀏覽量:677

    操作簡(jiǎn)單高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器
    HCLD-III高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):HCLD-III

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    高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器是根據(jù)GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》,UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III海淀區(qū)華測(cè)高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器
    HCLD-III海淀區(qū)華測(cè)高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):HCLD-III

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    海淀區(qū)華測(cè)高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器是根據(jù)GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》,UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III北京市華測(cè)試驗(yàn)儀器高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置
    HCLD-III北京市華測(cè)試驗(yàn)儀器高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):HCLD-III

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    北京市華測(cè)試驗(yàn)儀器高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置是根據(jù)GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》,UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III電氣連接件高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器
    HCLD-III電氣連接件高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-05

    型號(hào):HCLD-III

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    電氣連接件高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • 介質(zhì)材料耐電弧試驗(yàn)機(jī)HCDH-III
    介質(zhì)材料耐電弧試驗(yàn)機(jī)HCDH-III

    更新時(shí)間:2024-06-03

    型號(hào):

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    介質(zhì)材料耐電弧試驗(yàn)機(jī)HCDH-III采用計(jì)算機(jī)控制,試驗(yàn)過(guò)程中可在線觀察試驗(yàn)曲線;自動(dòng)存儲(chǔ)試驗(yàn)條件及試驗(yàn)結(jié)果等數(shù)據(jù),并可存取、顯示、打印。
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  • 軟件采用LabVIEW編寫(xiě)耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-III
    軟件采用LabVIEW編寫(xiě)耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-III

    更新時(shí)間:2024-06-03

    型號(hào):

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    軟件采用LabVIEW編寫(xiě)耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-III采用計(jì)算機(jī)控制,試驗(yàn)過(guò)程中可在線觀察試驗(yàn)曲線;自動(dòng)存儲(chǔ)試驗(yàn)條件及試驗(yàn)結(jié)果等數(shù)據(jù),并可存取、顯示、打印。
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  • 絕緣材料電氣強(qiáng)度測(cè)定儀HCDJC-50KV電壓擊穿
    絕緣材料電氣強(qiáng)度測(cè)定儀HCDJC-50KV電壓擊穿

    更新時(shí)間:2024-06-03

    型號(hào):

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    絕緣材料電氣強(qiáng)度測(cè)定儀HCDJC-50KV電壓擊穿 滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法 第1部分;工頻下試驗(yàn)》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測(cè)定法》、GB/T1981及ASTM D149標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。
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