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華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司靜電放電發(fā)生器簡(jiǎn)單說明

更新時(shí)間:2017-08-02      點(diǎn)擊次數(shù):921

                華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司靜電放電發(fā)生器簡(jiǎn)單說明

靜電放電(即ESD)是大家熟知的電磁兼容問題,它可引起電子設(shè)備失靈或使其損壞。對(duì)靜電放電敏感的元件被稱為靜電放電敏感元件(ESDS)。

  如果一個(gè)元件的兩個(gè)針腳或多針腳之間的電壓超過元件介質(zhì)的擊穿強(qiáng)度,就會(huì)對(duì)元件造成損壞。這是MOS器件出現(xiàn)故障zui主要的原因。氧化層越薄,則元件對(duì)靜電放電的敏感性也越大。故障通常表現(xiàn)為元件本身對(duì)電源有一定阻值的短路現(xiàn)象。對(duì)于雙極性元件,損壞一般發(fā)生在薄氧化層隔開的已進(jìn)行金屬噴鍍的有源半導(dǎo)體區(qū)域,因此會(huì)產(chǎn)生泄漏嚴(yán)重的路徑。

  另一種故障是由于節(jié)點(diǎn)的溫度超過半導(dǎo)體硅的熔點(diǎn)(1415℃)時(shí)所引起的。靜電放電脈沖的能量可以產(chǎn)生局部地方發(fā)熱,因此出現(xiàn)這種機(jī)理的故障。即使電壓低于介質(zhì)的擊穿電壓,也會(huì)發(fā)生這種故障。一個(gè)典型的例子是,NPN型三極管發(fā)射極與基極間的擊穿會(huì)使電流增益急劇降低。

  器件受到靜電放電的影響后,也可能不立即出現(xiàn)功能性的損壞。這些受到潛在損壞的元件通常被稱為“跛腳”,一旦加以使用,將會(huì)對(duì)以后發(fā)生的靜電放電或傳導(dǎo)性瞬態(tài)表現(xiàn)出大的敏感性。

  人體有感覺的靜電放電電壓在3000 — 5000V之間,然而,元件發(fā)生損壞時(shí)的電壓僅幾百伏。

  由于新技術(shù)的發(fā)展導(dǎo)致元件對(duì)靜電放電的損壞越來越敏感。靜電放電造成的損失每年可達(dá)到幾百萬美元以上。因此,許多大型的元件和設(shè)備制造廠引進(jìn)專業(yè)技術(shù)以減小生產(chǎn)環(huán)境中的靜電積累,以提高產(chǎn)品合格率和可靠性。

    靜電放電發(fā)生器就是基于此而設(shè)計(jì)產(chǎn)生的。

 

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